Il Gruppo Microtest, che opera nella realizzazione di sistemi di test e nel testing di micro chip su package e su wafer di silicio, ha presentato a SEMICON Taiwan 2024, il principale evento di Taiwan per la microelettronica, il nuovo tester dinamico per interruttori DS6 Pulsar, sviluppato dalla controllata britannica ipTEST.
Il DS6 Pulsar è progettato per testare micro chip destinati, tra le altre, all’industria automobilistica dei veicoli elettrici, con un focus particolare su applicazioni di stress test, ai produttori di semiconduttori di potenza e per il test di dispositivi Wide Band Gap (WBG) basati su tecnologie come carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN). Queste tecnologie sono sempre più rilevanti nella transizione ecologica, grazie al loro ampio utilizzo nelle batterie di nuova generazione.
Nel contesto tecnologico attuale in continua evoluzione, i dispositivi ad alta potenza basati su chip devono infatti soddisfare i più recenti standard di affidabilità e prestazioni. Evoluzione del precedente modello, il DS6 Pulsar esegue i test sui chip con valori nominali di corrente e tensione 2,5 volte maggiori rispetto allo standard attuale e con un’induttanza parassita minima, affermandosi come lo strumento più avanzato sul mercato per la velocità di commutazione. Assicura inoltre la conformità agli standard di prova del settore, come AEC-Q101 e AQG 324.
Presentazione al SEMICON 2024
Il Gruppo Microtest ha presentato al SEMICON uno strumento all’avanguardia per i test di cortocircuito sui chip, cruciali per garantire il funzionamento in sicurezza delle componenti anche in condizioni estreme, con un miglioramento delle prestazioni di oltre il 250%.
Il DS6 Pulsar include una tecnologia avanzata di protezione da sovracorrente sviluppata dalla controllata ipTest, (ipTEST SocketSafe) che isola rapidamente il dispositivo dal sistema in caso di guasto, proteggendo entrambi e mantenendo l’integrità del processo di test del chip. Questo riduce la necessità di riparazioni e garantisce un’affidabilità a lungo termine con un risparmio sui costi di manutenzione.
Supporta inoltre vari tipi di test su un’unica scheda di interfaccia, abilitando una rapida riconfigurazione per diversi tipi di dispositivi e manipolatori, permettendo un utilizzo efficiente su diverse linee di produzione.